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當(dāng)前位置: 首頁 » 設(shè)備館 » 半導(dǎo)體測試設(shè)備 » 顯微鏡分類 » 金相顯微鏡 »TM/50M研究級正置金相顯微鏡
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    TM/50M研究級正置金相顯微鏡

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè):

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-顯微鏡分類-金相顯微鏡

    庫       存:

    99

    產(chǎn)       地:

    全國

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

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     原理:金相顯微鏡系統(tǒng)是將傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡與計(jì)算機(jī)(數(shù)碼相機(jī))通過光電轉(zhuǎn)換有機(jī)的結(jié)合在一起,不僅可以在目鏡上作顯微觀察,還能在計(jì)算機(jī)(數(shù)碼相機(jī))顯示屏幕上觀察實(shí)時動態(tài)圖像,電腦型金相顯微鏡并能將所需要的圖片進(jìn)行編輯、保存和打印。

    應(yīng)用范圍:適用于工礦企業(yè)、高等院校及科研等機(jī)構(gòu)作材料內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)分析。

    產(chǎn)品特點(diǎn):

    全新TM/50M 系列觀察筒,采用寬光束成像系統(tǒng)設(shè)計(jì),支持26.5mm 世界領(lǐng)先的超寬視野觀察,帶給您全新的大視野體驗(yàn)。兩檔式正像鉸鏈三目觀察筒,保證樣品的移動方向與您通過目鏡觀察到的方向一致,使操作更加得心應(yīng)手。

    偏振系統(tǒng)

    偏振系統(tǒng)包括起偏器和檢偏器,可做偏光檢測,在半導(dǎo)體和PCB 檢測中,可消除雜光,細(xì)節(jié)更清楚。檢偏器分為固定式檢偏器和360 度旋轉(zhuǎn)式檢偏器。360°旋轉(zhuǎn)式檢偏器可在不移動標(biāo)本的情況下,方便的觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài)??稍谄裣到y(tǒng)的基礎(chǔ)上加載舜宇全新研發(fā)微分干涉器,建立諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)。

    諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)(選配)

    全新研發(fā)的U-DICR 微分干涉組件,可以將明場觀察下無法檢測的細(xì)微高低差,轉(zhuǎn)化為高對比度的明暗差并以立體浮雕形式表現(xiàn)出來,如LCD 導(dǎo)電粒子,精密磁盤表面劃痕等。

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