符合MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求；
系統(tǒng)能滿足各種封裝形式中、小功率的LED穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)、間歇壽命試驗(yàn)以及電流沖擊老化篩選試驗(yàn)。
數(shù)據(jù)庫(kù)加載導(dǎo)入，自動(dòng)完成試驗(yàn)過(guò)程，方便操作使用；被試器件DUT老化電源采用分區(qū)統(tǒng)一供給，程控方式；被試器件DUT可通過(guò)計(jì)算機(jī)檢測(cè)、記錄輸入輸出電壓、電流；可根據(jù)用戶的需求，定制各種老化板及測(cè)試程序。
高溫試驗(yàn)箱1臺(tái)，16個(gè)試驗(yàn)通道，40×16=640位，標(biāo)配8臺(tái)試驗(yàn)電源，電源規(guī)格可選；
設(shè)備具有試驗(yàn)電壓上限、溫度上限的設(shè)定，老化時(shí)間的設(shè)定；實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并顯示每通道的老化時(shí)間、老化進(jìn)度、失效工位數(shù)等；實(shí)時(shí)顯示并記錄保存老化參數(shù)；實(shí)時(shí)判斷是否超限，超限報(bào)警并記錄超限工位及超限時(shí)間；老化參數(shù)方便調(diào)用、可生成試驗(yàn)報(bào)表、可繪制漏電流變化曲線。
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