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    NanoMap-500LS 探針三維輪廓儀（臺(tái)階儀）美國(guó)蘆華

    產(chǎn)品品牌

    美國(guó)蘆華

    庫(kù)       存：

    100

    產(chǎn)       地：

    美國(guó)

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價(jià)       格：

    ￥10000.00
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    品牌：美國(guó)蘆華

    型號(hào)：

    所屬系列：半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備-表面形貌測(cè)試-表面輪廓儀

    NanoMap-500LS 探針三維輪廓儀（臺(tái)階儀）
    型號(hào) NanoMap-500LS NanoMap-LS NanoMap-ES
    基本技術(shù)參數(shù) 具備探針掃描(Tip)和樣品臺(tái)掃描(Stage)兩種模式，既可完成長(zhǎng)程大面積測(cè)量，也可得到最優(yōu)化的小區(qū)域二維/三維觀測(cè)圖。短程探針掃描采用精密的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描模式，三維掃描范圍從10μm X 10μm 到 500μm X 500μm，具有亞納米級(jí)垂直分辨率（最小0.1 nm）；長(zhǎng)程樣品臺(tái)掃描使用高級(jí)光學(xué)參考平臺(tái)，能使掃描范圍達(dá)到150 mm。這兩種掃描方式分別為用戶提供精密和快速掃描。適用全系材料測(cè)量，幾乎可以接納任何材料表面。在掃描過(guò)程中結(jié)合彩色光學(xué)照相機(jī)，可對(duì)樣品直接觀察。
    臺(tái)階重復(fù)率 5A
    fine模式Z高度范圍 5μm
    coarse模式Z高度范圍 500μm(可選1.5mm)
    Tip Scan模式(XY) 最大500μm NO 最大500μm
    Stage Scan模式(XY) 最大150mm(可選200mm等) 最大300mm
    探針壓力 0.03-100mg
    樣品臺(tái) 150*150mm(可選200*200mm等) 300*300mm
    最大樣品厚度 50mm(可選100mm)
    樣品臺(tái)旋轉(zhuǎn) 360度
    樣品臺(tái)傾斜 4度
    應(yīng)力分析 Yes

     

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