網(wǎng)站首頁

中|EN

當(dāng)前位置: 首頁 » 設(shè)備館 » 半導(dǎo)體測試設(shè)備 » 表面、內(nèi)部檢測 » 表面形貌檢測 »FM/060-LP激光平面干涉儀 FM/060-LP
    •
    包郵 關(guān)注:1598

    FM/060-LP激光平面干涉儀 FM/060-LP

    產(chǎn)品品牌

    MCF

    庫       存：

    80

    產(chǎn)       地：

    中國-北京市

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付
    • 商品詳情
    • 商品參數(shù)
    • 評價詳情(0)
    • 裝箱清單
    • 售后保障

    具體設(shè)備詳情請咨詢專業(yè)銷售：  400-6988-696   

    型號：FM/060-LP激光平面干涉儀

    原理：斐索干涉儀是一種原理為等厚干涉，用以檢測光學(xué)元件的面形、光學(xué)鏡頭的波面像差以及光學(xué)材料均勻性等的精密儀器。其測量精度一般為1/10～1/100,為檢測用光源的平均波長。

    功能：平面光學(xué)元件表面面型測量
         
               測量方式：斐索干涉原理 

    通光口徑：60mm   

    測試波長：635nm（半導(dǎo)體激光器）

    對準(zhǔn)方式：簡單兩點對準(zhǔn)      

    對準(zhǔn)視場：±0.5度              

    平面標(biāo)準(zhǔn)鏡精度：PV：λ/20      


     

                      1.1

    產(chǎn)品特點：

    1.     結(jié)構(gòu)緊湊，小型化；

    2.     防塵效果好；

    3.     具有不損傷被測物品、測試精度高、測量時間短；

    4.     激光干涉儀的光源——激光，具有高強度、高度方向性、空間同調(diào)性、窄帶寬和高度單色性等優(yōu)點；

    5.     激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來使用；

    6.     激光干涉儀測量范圍大、分辨率高等。

    應(yīng)用范圍：科學(xué)研究、精密器件加工及光學(xué)零件測試等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。


    咨詢

    購買之前，如有問題，請向我們咨詢

    提問:
     

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的相關(guān)同類產(chǎn)品：

    服務(wù)熱線

    4001027270

    功能和特性

    價格和優(yōu)惠

    微信公眾號