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代工 對(duì)失效或有缺陷的元器件或電源產(chǎn)品通過(guò)使用測(cè)試分析

發(fā)表于:2017-12-21  作者:30755839  關(guān)注度:549

可對(duì)失效或有缺陷的元器件或電源產(chǎn)品通過(guò)使用測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)其失效現(xiàn)象,分辨失效模式或機(jī)理,確定其最終的失效原因,提出改進(jìn)與預(yù)防措施,對(duì)改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì),提高工藝技術(shù),減少失效,及仲裁失效事故起著極為重要的作用。

 
編號(hào) 設(shè)備名稱(chēng) 功能 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
XF-001 X射線檢測(cè)設(shè)備 樣品內(nèi)部探測(cè) MIL-STD-750 Method 2076
XF-002 超聲波掃描顯微鏡 樣品斷面掃描(樣品內(nèi)部探測(cè)) MIL-STD-883 Method 2030
XF-003 金相顯微鏡 目檢 MIL-STD-883/MIL-STD-750/JEDEC
XF-004 體視顯微鏡 連續(xù)變倍,高清晰度大視場(chǎng) -
XF-005 精密切割機(jī) 切割 -
XF-006 研磨/拋光機(jī) 半自動(dòng)的磨拋機(jī) -
XF-007 多功能推拉力測(cè)試機(jī) 拉力測(cè)試、焊點(diǎn)剪切力測(cè)試和晶粒剪切力測(cè)試 MIL-STD-883E JESD22-B116B
XF-008 能量色散型X射線熒光光譜儀 檢測(cè)RoHS/WEEE、ELV指令中指定有害物質(zhì) RoHS指令,WEEE指令,ELV指令
 
可靠性實(shí)驗(yàn)室 應(yīng)用系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室 元器件實(shí)驗(yàn)室 失效性分析實(shí)驗(yàn)室

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