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    手動(dòng)高低溫探針臺(tái) HMP-800SC 可測8’’晶圓 HMP-1200SC 可測12’’晶圓

    產(chǎn)品品牌

    上海起南

    庫       存：

    100

    產(chǎn)       地：

    全國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價(jià)       格：

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌：上海起南

    型號(hào)：

    所屬系列：半導(dǎo)體測試設(shè)備-電學(xué)性能測試-手動(dòng)探針臺(tái)

    手動(dòng)高低溫探針臺(tái)
     
    型號(hào)：HMP-800SC 可測8’’晶圓
    型號(hào)：HMP-1200SC 可測12’’晶圓
     
    此款手動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng)針對(duì)于新一代半導(dǎo)體裝置設(shè)計(jì)，非常低的噪音和低的漏電流。在這個(gè)系統(tǒng)中，屏蔽的樣品腔包含探針和樣品臺(tái)全部都在EMI屏蔽環(huán)境中。此系統(tǒng)支持超低信號(hào)測試，1/f噪音測試，S參量測試，和高速I-V測試在控溫變溫環(huán)境中從-60℃到300℃（或者特殊環(huán)境到400℃）
    此探針臺(tái)系統(tǒng)可選支持高電流和高電壓功率測試。
    HMP-610SC 6’’晶圓可選。
     
    應(yīng)用：
    溫度范圍：室溫到300℃或-60℃到300℃
    超低信號(hào)I-V測量（fA級(jí)）
    各種C-V測量（準(zhǔn)靜態(tài)C-V, HF-CV，RF-CV）[sub pF級(jí)]
    1/f噪音評(píng)估
    RTN（自由電子噪音）評(píng)估
    高頻噪音評(píng)估（到800MHz）
    RF測量（到67GHz）/S 參數(shù)測量
    超高速I-V測量
    擴(kuò)展應(yīng)用：
    支持探卡（支持多點(diǎn)位晶圓可靠性測試WLR）
    光電子中光接收/發(fā)散特性評(píng)估應(yīng)用（如：LED，LD，VCSEL，PD）
    高功率元器件測量（200A脈沖，+/-3kV三軸,+/-10kV同軸）
    晶圓的可靠性測試（如：EM，TDDB，HCI，NBTI，BT）

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